国产探花免费观看_亚洲丰满少妇自慰呻吟_97日韩有码在线_资源在线日韩欧美_一区二区精品毛片,辰东完美世界有声小说,欢乐颂第一季,yy玄幻小说排行榜完本

首頁 > 學院 > 常見問題 > 正文

關于“SSD數據7天丟失”的真相

2019-12-21 02:47:08
字體:
來源:轉載
供稿:網友
SSD數據7天丟失???真的假的?

上周,一份關于“SSD在不通電狀態下7天便會丟失數據”的新聞傳的沸沸揚揚,不少不明真相的吃瓜群眾被新聞里提到的“希捷工程師”、“大量數據證明”、“斷電7天就會丟失數據”等字眼嚇到,紛紛表示:這下SSD都靠不住了!

面對這種局面,一向以嚴謹著稱的AnandTech坐不住了,近日,他們刊文對“SSD待機7天掉數據”進行了辟謠。作為比較早期的SSD用家(至今已經換過四塊SSD了,從32G一路用到256G),筆者對這篇辟謠文感觸頗多,因此將之編譯與諸君共享,并附上我個人的一些補充與看法。

關于“SSD數據7天丟失”的真相

首先,與一些網站報道的不同,AnandTech指出這份引起諸多爭議的報告并非出自希捷公司,而是以JEDEC(固態技術協會)官方資料的名義發布的。作者Alvin Cox雖然在希捷任職(因此他在報告的作者那里寫上了希捷)但是他是以SSD委員會主席的名義發表的此篇報告,而JEDEC為所有儲存公司的聯合標準化組織,因此這篇報告意圖在于對所有廠商提出告誡(而非針對任一特定廠商)。

關于“SSD數據7天丟失”的真相

在解釋數據丟失的真相之前,AnandTech認為他們需要先解釋一下SSD的生產廠商是如何定義SSD的可靠性的:首先,SSD需要保證其使用容量,因此廠商無法預留很多OP空間;其次,SSD必須滿足UBER(每bit讀取操作的數據錯誤數量)的標準(簡單來說就是誤碼率不能太高);最后,SSD必須滿足在掉電情況下數據保存一段時間(符合JEDEC對此的規定)。需要注意的是,這三條是基于SSD所寫明的最大寫入壽命來實現的,比如某SSD規定寫入量100TB,那就意味著在寫入100TB之后仍然需要滿足以上三條,才能算作是滿足可靠性要求。

關于“SSD數據7天丟失”的真相

上表展示了家用和商用環境下對SSD可靠性的不同規定,我們可以看到,家用SSD的斷電數據保存時限是在30攝氏度下保存一年,這一溫度已經高于一般家庭環境的年均室內溫度。那么溫度是如何影響SSD的數據保存的呢,AnandTech對此進行了進一步解釋。

關于“SSD數據7天丟失”的真相

這就是從那篇惹禍的報告中提取出的表格,注意此表中的測試數據基于某IntelSSD,而非希捷的產品。

在40攝氏度的操作溫度、30攝氏度的存放溫度下,普通家用SSD可以保持一年的數據有效時間。 從表中可以看出,操作溫度(也就是通電時的溫度)對SSD的數據壽命有正面的影響而保存溫度(斷電期間的溫度)對數據壽命則是負面的影響。在最糟糕的情況下(通電溫度25-30度,斷電溫度高達55度),數據保存時間可以短至一周:沒錯,這就是被傳的沸沸揚揚的“SSD數據只能存放一周”的出處,然而這種情況根本不可能在實驗室以外的地方發生。

55度的存放溫度意味著用戶放置電腦的房間氣溫高達55度(而不是說的機箱內部溫度,因為這個時候電腦是關機的,SSD是斷電的);反之,一般用戶電腦在使用時的內部溫度都至少有40度以上(即SSD的操作溫度)!

關于“SSD數據7天丟失”的真相

SSD的儲存原理是基于半導體晶格所儲存的電子數目:當SSD被加電寫入數據的時候,晶格被充電,內部為電子所占據,而讀取數據的原理則是用一個低壓電信號去偵測晶格中是否存在電子。當SSD斷電,晶格變為絕緣體并封住其中的電子,但溫度的升高會導致電子的布朗運動變得劇烈并有更大的幾率從晶格中逃逸,從而造成晶格內部的電壓(電子數量)低于可探知(讀取)的正常范圍,就體現為數據的丟失。

而當SSD處于通電狀態時,溫度的適度升高所起到的作用就正好相反,由于升高的溫度會增強硅的導電性,從而使寫入/擦除操作的電流升高,對隧道氧化層的壓力減小,增強了晶格在斷電后保存電子的能力,因為晶格就是靠隧道氧化層來防止電子逃逸的。

總之,用戶完全無需擔心在典型使用狀況下家用SSD的數據壽命問題,畢竟誰家的氣溫都不會有50度那么高:真到了那個程度,在擔心SSD數據之前先逃命吧。經過長期的實踐和仿真測試證明,即使是一般的家用MLC SSD,也至少可以安全地用上10年之久。

筆者按:其實AnandTech在這里還忽略了兩點因素,一是現有的SSD大都具備對出錯數據的校驗糾錯能力和對電壓發生偏移的晶格進行強制讀取的能力。前者就是ECC,而后者則多見于配備TLC閃存的SSD上(因為TLC閃存在長時間不操作之后很容易發生晶格中的電子泄漏,因此通過控制讀取電壓的偏移值對已經發生泄漏的晶格強制讀取是所有TLC SSD的必備功課。)

再一個就是無論那篇嚇人的報告還是AnandTech的辟謠都沒有提到SSD的制程問題,目前19nm和16nm制程的閃存,其晶格已經小到只能存儲不到20個電子,因此因高溫而導致數據出錯的可能性理論上確實是存在的;但幾大閃存巨頭即將引入3D V-NAND技術(三星已經用上了,Intel和鎂光也已經公布了量產計劃),通過把晶格從“平房”改為“樓房”可以極大地擴大每一個晶格的容積,有效緩解電子穿隧效應對數據安全的影響。

總之,不管最初把那篇業界報告斷章取義、大肆渲染的媒體意欲何為,至少有了AnandTech權威的辟謠,SSD用戶們不用再擔心自己的數據安全了,在此,筆者也希望那些媒體,特別是科技媒體們,秉持你們的專業素養,不要參與到這種毫無營養,害人害己的行為中來。

發表評論 共有條評論
用戶名: 密碼:
驗證碼: 匿名發表
主站蜘蛛池模板: 靖江市| 武隆县| 苗栗县| 大荔县| 铜川市| 韶关市| 宽甸| 南和县| 西宁市| 奉新县| 远安县| 遵义市| 罗定市| 咸阳市| 四子王旗| 宝山区| 浪卡子县| 阳西县| 如东县| 河池市| 桑日县| 济源市| 且末县| 泸溪县| 永德县| 七台河市| 峡江县| 汉川市| 阿城市| 永仁县| 大埔县| 本溪市| 太仆寺旗| 搜索| 策勒县| 新泰市| 精河县| 南溪县| 桃源县| 潍坊市| 信丰县|