NEXT測試步驟是最大的問題,超5類非嵌入式插頭測試步驟經過了優化,由于插座測試時,測量的可變性造成的測量誤差已經降低。當一個插座和一個最壞情況的低高(low and high)測試插頭連接時,超5類連接器在100MHz的NEXT是43dB。非嵌入式插頭測試過去是一個最壞情況測試,它規定了如何在最壞情況下評價被測試的插頭。比如,過去的測試中,第36-45對線的測試允許誤差范圍大致是+/-0.5dB,這導致匹配測試結果會有+/-1dB的誤差。6類連接器規范要求在100MHz是54dB。如果測試插頭用同樣的允許誤差范圍去測試第36-45對線的匹配連接器,誤差可能會達到+/-4dB。對于高性能的連接器測試來說,這種誤差太大了,并且會導致以后出售的符合6類標準的插頭不匹配,由于互用性不好而導致現場安裝失敗。新的測試流程采用一個參考插頭導引(用來測試插頭)替代了舊的流程的許多步驟。新流程正在通過一個由多方參加的測試,來驗證它引起的誤差符合要求。泛達6類布線系統的高性能體現在完全達到并超過TIA/EIA CAT6的性能指標;其T3模塊能有效的把能量衰減和與干擾比率(PSACR) 推進至300Mhz。