硬盤壞道分為邏輯壞道和物理壞道。

       硬盤的邏輯壞道產(chǎn)生的原因通常多數(shù)是由于軟件的使用或操作不當(dāng)，如經(jīng)常不正常關(guān)機(jī)（當(dāng)然頻繁的不正常關(guān)機(jī)可能也會引致物理壞道）所造成的。硬盤的邏輯壞道屬于軟壞道，并不是真正的物理損壞，但若不及時修復(fù)則會導(dǎo)致壞道區(qū)域蔓延，從而造成更多數(shù)據(jù)丟失或程序出錯。

物理壞道產(chǎn)生的原因有以下幾種：

1、硬盤在高速運(yùn)轉(zhuǎn)時，受到振動而產(chǎn)生；

2、硬盤的供電不穩(wěn)定，電壓偏高或偏低；

3、硬盤關(guān)機(jī)后盤片還沒有停止轉(zhuǎn)到，回到起停區(qū)，就立即加電開機(jī)，從而造成壞道；

4、超頻或長時間高溫運(yùn)轉(zhuǎn)；

5、環(huán)境惡劣，造成灰塵從呼吸孔進(jìn)入硬盤從而造成硬盤有壞道。

      從上面幾點(diǎn)看出，防止硬盤壞道要正確操作電腦，不要頻繁開關(guān)機(jī)，還有給電腦一個好的工作環(huán)境，最好使用名牌大廠的電源，這樣就能保證硬盤有較長的使用壽命，避免壞道的產(chǎn)生。